Растровый электронный микроскоп — прибор, позволяющий получать изображение объектов с максимальным увеличением до 106 раз благодаря использованию пучка электронов (в отличие от оптического микроскопа, где используется световой поток), а также информацию о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоев.
